信息來(lái)源于： 發(fā)布于：2020-06-04
rohs檢測(cè)儀是針對(duì)RoHS行業(yè)特別研發(fā)設(shè)計(jì)的手持檢測(cè)分析儀。儀器引入數(shù)字多道技術(shù)，使檢出限更低，穩(wěn)定性更高，性能媲美臺(tái)式機(jī)；小巧便攜的體積使檢測(cè)工作更簡(jiǎn)單、更輕松。rohs檢測(cè)儀可看成X射線(xiàn)熒光光譜儀，其分析原理就與X射線(xiàn)熒光光譜儀的分析原理相同：
X射線(xiàn)熒光光譜儀通?？煞譃閮纱箢?lèi)，波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀(EDXRF)，波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件，相對(duì)簡(jiǎn)單。
波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線(xiàn)，根據(jù)Bragg定律，通過(guò)測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線(xiàn)波長(zhǎng)：
nλ=2dsinaθ（n=1，2，3…）；
式中：
λ為分析譜線(xiàn)波長(zhǎng)；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線(xiàn)的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)，從而獲得待測(cè)元素的特征信息。
能量色散射線(xiàn)熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線(xiàn)能量：
Q=kE；
式中：
K為入射射線(xiàn)的光子能量；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；k為不同類(lèi)型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線(xiàn)能量成正比，故通過(guò)測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息。
待測(cè)元素的特征譜線(xiàn)需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線(xiàn)光管和同位素激發(fā)源等。
rohs檢測(cè)儀高清晰、高分辨率的嵌入式PDA，軟件裝在Windows系統(tǒng)，操作靈活簡(jiǎn)單，很好的支持PDA系統(tǒng)升級(jí)和軟件升級(jí)。
